The TDMS is equipped with a commercial Laser Interferometer using two aligned laser beams (distance 21 mm) to determine the differential change in distance between a reference surface and the sample surface. One retroreflector placed at the sample is enhancing the surface light reflection in case the sample is not sufficiently reflecting a wavelength of 632 nm (metals polished surface). The sample can be cooled down to 7 K and the measurement to 293 K reference temperature is performed during free warm up of the cryocooler-based system.

Sample geometries upto 200 mm in length can be used. The differential method allows for lateral distances of ds<18 mm between sample and reference (beam axis distance is 21 mm fix).

Ce dispositif expérimental est équipé d’un interféromètre laser utilisant 2 faisceaux alignés à une distance de 21 mm. Il est ainsi possible de déterminer la variation de la distance entre une surface de référence et la surface de l’échantillon. Si la surface de réflexion de l’échantillon n’est pas suffisante, un rétro-réflecteur peut être ajouté à son extrémité pour refléter la longueur d’onde de 632 nm. L’échantillon peut être refroidi à 7 K et la mesure à 293 K (utilisée comme référence) se réalise lors du réchauffement de l’ensemble du système.

Les échantillons à tester peuvent mesurer jusqu’à 200 mm, avec une distance entre les deux surfaces inférieures à 18 mm (la distance entre les 2 faisceaux étant 21mm).